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高低溫試驗箱用于電(dian)子電(dian)器元(yuan)件(jian)、自動化(hua)(hua)(hua)零(ling)部(bu)件(jian)、通(tong)訊元(yuan)件(jian)、汽車(che)零(ling)部(bu)件(jian)、金屬、化(hua)(hua)(hua)工材料(liao)、塑料(liao)等行(xing)業、國防工業、航(hang)空航(hang)天、軍q工、BGA、PCB基(ji)板扳手、電(dian)子芯片IC、半導體陶瓷磁性(xing)和(he)高(gao)分子材料(liao)的(de)(de)物理變化(hua)(hua)(hua)，測(ce)試其(qi)材料(liao)承受高(gao)低溫的(de)(de)性(xing)能以及產品(pin)在熱脹冷縮中的(de)(de)化(hua)(hua)(hua)學變化(hua)(hua)(hua)或物理損傷(shang)，可以確(que)認產品(pin)的(de)(de)質量(liang)，從(cong)精密IC到重型機械元(yuan)件(jian)，將是(shi)各領域產品(pin)測(ce)試必不可少的(de)(de)試驗箱。

高低溫試驗箱(xiang)可以給電子(zi)元器件做哪些檢測？電子(zi)元件是整(zheng)機(ji)的(de)(de)基礎，在使(shi)用過程中(zhong)可能由于其(qi)固有缺陷或制(zhi)造過程控制(zhi)不當(dang)而形成(cheng)與時間或應力有關的(de)(de)故障(zhang)。為保證整(zheng)批元器件的(de)(de)可靠性，滿(man)足整(zheng)機(ji)的(de)(de)要(yao)求(qiu)，需要(yao)排除(chu)在使(shi)用條件下可能出現初始故障(zhang)的(de)(de)元器件。

1、高溫儲存

電子元(yuan)器件(jian)的失(shi)效大(da)多(duo)是由于機體和表面的各(ge)種物理化(hua)學變化(hua)引起的，這些變化(hua)與(yu)溫度密切(qie)相關。溫度升高后，化(hua)學反應(ying)速(su)度大(da)大(da)加快，加速(su)失(shi)效過程。使有缺陷的元(yuan)件(jian)能及時暴露出來，加以(yi)淘汰。

高(gao)(gao)(gao)溫篩分廣泛(fan)應(ying)用于半導體器件中，可有(you)效(xiao)消除表(biao)面污染(ran)、鍵合(he)不b良和氧化(hua)層(ceng)缺陷等(deng)失效(xiao)機(ji)理。一般在zui高(gao)(gao)(gao)結溫下儲(chu)存(cun)24~168小時。高(gao)(gao)(gao)溫篩分簡單易行，價(jia)格不貴，可以對很(hen)多部件進行。高(gao)(gao)(gao)溫儲(chu)存(cun)后，可以穩定元器件的參數(shu)性能，減少使用中的參數(shu)漂移。

2、電力測試

在(zai)篩選(xuan)中，在(zai)熱電(dian)應力(li)(li)的綜合(he)作用下，可以很好地暴露出元(yuan)器件(jian)(jian)本體和(he)表面的許多潛在(zai)缺陷，這是可靠(kao)性篩選(xuan)的重要(yao)項目。各種電(dian)子元(yuan)器件(jian)(jian)通常(chang)在(zai)額(e)定功率條件(jian)(jian)下精(jing)煉(lian)幾(ji)小(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)時(shi)到(dao)168小(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)時(shi)。有些產品，如集成電(dian)路，不能隨便改變條件(jian)(jian)，而是可以采用高(gao)溫(wen)工作方式(shi)來提高(gao)工作結溫(wen)，達(da)到(dao)高(gao)應力(li)(li)狀態(tai)。電(dian)力(li)(li)精(jing)煉(lian)需要(yao)專門的測(ce)試(shi)設備高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱，成本高(gao)，篩選(xuan)時(shi)間不宜過長(chang)。民用產品通常(chang)是幾(ji)個小(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)時(shi)，軍(jun)q用高(gao)可靠(kao)性產品可以選(xuan)擇100168小(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)時(shi)，航空級部件(jian)(jian)可以選(xuan)擇240小(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)時(shi)或更(geng)長(chang)的周期。

3、溫度循環

電子產品在使用過(guo)程中會遇到不同的環(huan)境溫度(du)條件。在熱(re)脹(zhang)冷縮的應(ying)力作用下(xia)，熱(re)匹配性(xing)能差的元件很容易(yi)失效(xiao)。溫度(du)循(xun)(xun)環(huan)篩選利用極端高溫和(he)極端低溫之(zhi)間的熱(re)脹(zhang)冷縮應(ying)力，可(ke)有(you)效(xiao)剔除(chu)具有(you)熱(re)性(xing)能缺陷(xian)的產品。常用的元器件篩選條件為-55~125℃，5~10個循(xun)(xun)環(huan)。

電力精煉需要專門的(de)測試(shi)設備，成本高(gao)，篩選(xuan)時(shi)(shi)間不宜過長。民用(yong)產品通常是幾個(ge)小時(shi)(shi)，軍q用(yong)高(gao)可(ke)靠性(xing)產品可(ke)以選(xuan)擇(ze)100168小時(shi)(shi)，航空級部(bu)件可(ke)以選(xuan)擇(ze)240小時(shi)(shi)或更長的(de)周期(qi)。

4、篩選元件的必要性

電子(zi)元器(qi)件的(de)(de)固有(you)可靠性(xing)(xing)取決(jue)于(yu)產(chan)品的(de)(de)可靠性(xing)(xing)設計。在產(chan)品的(de)(de)制造過(guo)程中(zhong)，由于(yu)人為因素或原材料、工藝條(tiao)件、設備條(tiao)件的(de)(de)波(bo)動，zui終的(de)(de)成(cheng)品并不能全部達(da)到預(yu)期(qi)的(de)(de)固有(you)可靠性(xing)(xing)。在每批(pi)成(cheng)品中(zhong)，總有(you)一(yi)些(xie)產(chan)品存在一(yi)些(xie)潛在的(de)(de)缺陷和(he)弱(ruo)點，其特(te)點是在一(yi)定的(de)(de)應力條(tiao)件下早(zao)期(qi)失效。早(zao)期(qi)失效部件的(de)(de)平均壽命(ming)比正(zheng)常產(chan)品短得多(duo)。

電子設(she)備能否可(ke)(ke)靠工(gong)(gong)作(zuo)的依(yi)據是(shi)電子元器件(jian)能否可(ke)(ke)靠工(gong)(gong)作(zuo)。如果早期故(gu)障部件(jian)與整(zheng)機設(she)備一(yi)起安裝，將大(da)大(da)增(zeng)加整(zheng)機設(she)備早期故(gu)障的故(gu)障率(lv)，其(qi)可(ke)(ke)靠性達不到(dao)要求，也將付出巨大(da)的代(dai)價修理。

因(yin)此，無論是軍工用(yong)(yong)產品(pin)還是民用(yong)(yong)產品(pin)，篩選(xuan)都是保證可靠(kao)性(xing)的重要手段。高低溫試驗(yan)箱都是電(dian)子元器(qi)件環境可靠(kao)性(xing)試驗(yan)的適佳(jia)選(xuan)擇(ze)。